二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293742041 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种用于测量半导体器件的电性能的prober。它是一种半导体测试设备，允许在晶圆级对半导体器件进行高精度的电气测量。TEL P8 prober的设计具有高精度但紧凑的占地面积，以满足晶圆prober应用不断扩大的需求，提供改进的晶圆探测精度、产量和吞吐量。它可以测量接触电阻、导线电阻、功耗等不同的电气参数。TOKYO ELECTRON P8 prober在无矢量扫描技术上运行，在该技术中同时测量接触位移和电阻。该系统经过ASIC测试和认证,并作为完整组件提供,包括探针卡、头卡、卡盘和软件。探针卡设计用于将探针与正在测试的晶片接触。探针可以精确调整以测量单点的电阻，直至高重复性和广泛电阻的大阵列点。探头卡配有冷却机构，可在延长载荷时进行高精度探测。磁头使用后置驱动器执行器控制单元,在探头插入和接触时具有很高的可重复性。卡盘在探测时使用真空机对晶片提供安全的抓地力。它还为晶圆传输过程中的断裂提供了可靠的保护。TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober的软体设计为提供人性化的测试环境。它包含用于数据采集、分析和晶圆成像的工具,这些工具对于成功的晶圆测试至关重要。该软件可帮助操作员根据需要自定义测试参数,并提供设置和过程自动化功能。P8 prober生成的数据可以导出和导入到不同的格式中，便于高效的数据传输和分析。总之，TOKYO ELECTRON P8 prober为半导体元件提供了可靠准确的测试工具。它配备了先进的功能,能够在人工干预最少的情况下进行高效的测试。该资产将高精度占用空间与用户友好的软件平台相结合,使其成为晶圆级测试和分析的理想解决方桉。