二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293775073 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一种电气探测工具，设计用于通过深度探测和布线技术诊断封装中的电气故障。该设备结合了各种类型的探针，能够在一个通道内测试多个互连和信号参数，在托盘到托盘的基础上运行，使用户能够快速分析和响应错误。TEL P8 Prober系统利用由半导体级探头组成的探头，最大限度地减少接触污染。探针使用弹性板以及附加的6向接触结构连接,以提高耐用性和准确性。柔性过程允许基于半导体过程容易修改的布线设置。此外，使用特殊的接线装置有助于降低晶片上的压力，从而影响设备的电性能。Prober配备了测试模式、力控制等各种参数。可以调整这些参数以匹配工艺的设计。该机器还提供了增强的深度探测服务，使其能够检测到甚至最小的缺陷级别。此功能消除了手动探测方法,减少了时间和过程成本。此外，prober还结合了视觉识别算法和摄像头来精确检测特定元素，从而能够可靠地确定缺陷和接触位置。该工具的设计占用空间小而灵活,可轻松实现到任何半导体封装环境中。此外,符合人体工程学的设计使用户能够安全、舒适地操作Prober,最大限度地减少压力并保持高效的工作区。来自TEL的TOKYO ELECTRON P8 Prober是探测和检测电气故障的高效可靠的工具。凭借其灵活的工艺和易用性，该资产可以适应任何种类的半导体封装，提供准确、经济高效的探测和探测方法。