二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809515 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种用于测量半导体晶片和器件的电性能的prober。具备自动晶圆映射能力和综合操作功能。强大的设备专为当今现代集成电路（IC）制造过程中的精确测量和稳定运行而设计。TEL P8是TEL prober产品系列中最新的prober，融合了高端特性和先进技术。它提供卓越的电气测量,例如源测量单元（SMU）,能够进行高压和/或低电流测量。自动晶圆映射功能使其非常适合测试包括DRAM、SRAM和逻辑RAM应用在内的精细结构。它非常适合高级内存和Logic进程,例如READ和WRITE功能,以及大型分发网络的测试。这个先进的prober能够测量宽的动态范围，低至0.1mA和高达10安培。TOKYO ELECTRON P 8的设计基于模块化构造，使其成为一个用途广泛、功能强大的系统。TEL/TOKYO ELECTRON P 8的基模是一个先进的晶圆处理单元，使用符合要求的安装级和晶圆盒式组件，以确保精确的晶圆映射和测试位点放置。Prober的背板配有VHF无线电模块，方便远程编程和数据下载。机器还有一个用户友好的图形界面，它显示测试设置，结果是一个易于理解的图形格式。此外，该工具还提供了多种测试模式，以及简单直观的批处理模式操作。P8还拥有高速数据采集资产，允许实时测试结果显示和快速重测能力。该模型的数据采集速度高达50Ms/s，适用于高频测试。TOKYO ELECTRON P8兼容多种晶圆尺寸，从200毫米到300毫米不等。此外，它还具有排他性的间隙控制能力，允许精确的动态测试程序。总体而言，TOKYO ELECTRON P-8是一种顶级的prober，允许在现代IC制造过程中进行精确的电气测量和稳定的操作。它提供了先进的晶圆映射能力、高速数据采集、广泛的动态范围以及与各种晶圆尺寸的兼容性。TEL P-8还有一个直观的用户界面，允许用户友好的编程和数据显示。该设备非常适合高级内存和逻辑过程以及高频测试。