二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809518 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种先进的prober，旨在方便半导体晶片的测试和评估。TEL P8是一个多功能平台，能够测量晶圆表面的各种参数。除物理特性和参数外，这种探头还可以测量半导体器件的电性能，例如电容。TOKYO ELECTRON P8的设计和技术使其能够准确测量和分析晶圆参数，使其成为开发和生产的宝贵工具。通过完全模块化的设计，P8允许使用范围广泛的探头和测试头。这包括用于测量电容、电阻、介电常数、电压测试和光学强度的测试头。P 8还有一个高温卡盘的选项，这样它就可以用于高温下的测量。除了灵活性和可靠性外，TEL/TOKYO ELECTRON P8还配备了先进的软件和可选配件。它的软件旨在促进对测量的分析，以确定测量的准确性和完整性。该软件提供数据库支持、自动数据采集和分析、报告生成以及交互式编程和控制。Total integrated standard control （TISC）还允许用户管理多个测试头、自动化测量序列和处理多个作业。TEL/TOKYO ELECTRON P 8还附带了一系列可选配件，以支持其可用于的应用范围。这包括一个远程热室和晶圆处理臂，这两者对于精确测量高温下的晶圆至关重要。该系统还允许使用许多工具，如表面扫描探针和光电仪器。此外，它有能力定制各种配件，如微波探头、非接触计量仪器和力流量计。P-8 prober是一种用于测试半导体晶片的可靠且用途广泛的解决方桉。它具有先进的软件和广泛的探针和测试头，为测量晶圆参数和分析结果提供了一个可靠的解决方桉。此外，它的灵活性和可选配件的范围允许它被定制为各种应用。