二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293809520 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一种高性能的Prober，设计用于：-高速探测速率和超低循环测试。-高级流程分析。-高精度表面测量和与各种设备尺寸的兼容性。开发TEL P8 Prober是为了满足不断增长的制造工艺需求和表面检测精度。它是一种高速、扫描的探针，可以容纳范围广泛的晶圆尺寸，并且与高达25毫米x 25mm的芯片尺寸兼容。它具有两个电荷耦合器件（CCD）图像传感器和四个麦克风来测量表面地形和缺陷，以便分析加速/减速波形以进行过程分析。TOKYO ELECTRON P8 Prober利用集成控制设备结合机智时间控制系统，可进行高速测试和精确的表面测量。集成控制单元由五个轴组成,允许在测试过程中向前/向后移动和X 轴/Y 轴/Z轴移动。这使得晶片的精确定位能够在最短的循环时间内获得高度精确的表面测量和分析。TEL/TOKYO ELECTRON P 8 Prober配备了经过彻底测试的视觉机，使用两台CCD相机高速准确地获取图像。同时发光并向物体传播，得到图像，反射光返回相机，形成图像。视觉工具随后考虑像素总数、噪声、失真和其他参数，以准确获得表面测量结果。另外，P-8 Prober具有四个麦克风，分析声学数据以获得给定晶圆的宽带频率。它能够在三个轴上进行频率分析，能够精确测量表面的距离和形状。然后，四个麦克风通过开放源代码软件对数据进行通信，从而能够同时测试多个样本，从而获得平均完成程度。TEL P8 Prober也兼容低温过程，并配有静电卡盘和冷卡盘，以便进行精确的实验。冷卡盘能够在-70至+25摄氏度的范围内工作，使低温过程分析成为最佳。总体而言,TEL/TOKYO ELECTRON P8 Prober是一款高性能的Prober,提供卓越的速度和准确性。采用两个CCD摄像机和四个麦克风进行精确的表面测量和工艺分析，适用于0mm到25mm的各种样品分析。此外，TEL P-8 Prober还配备了先进的功能，如机智的时间控制资产和静电/冷卡盘，用于各种工艺和温度。