二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #293823437 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一款专为先进半导体器件和集成电路测试而设计的prober。它能够在晶圆级测试设备，从而能够在单个芯片组装成电路之前对其进行表征。TEL P8是一个多通道的prober，允许同时测试多个设备。它具有高精度的XYZ定位阶段,适合在非常小的特性（如颠簸和MEMS设备）上进行测量。XYZ定位级的分辨率为10纳米，可重复性为1.5微米。它采用高精度电机驱动，并针对低振动进行了优化，确保了对晶片的出色控制。设备可处理直径达300 mm的晶片，可针对不同晶片尺寸进行调整。TOKYO ELECTRON P8 prober能够支持手动和自动探测。该设置对用户友好,并提供多种探测技术,包括单站点探测和多站点扫描。该系统可与自动化样品处理单元和在线C-SAM（关键采样分析器模块）集成,用于自动采样和分析。C-SAM可以进行缺陷检测、屈服增强和可靠性测试。机器还提供数据收集功能，允许用户记录各种数据点，包括电压、电流和电容值。P-8 prober设计为与各种类型的物料移交和探测站系统兼容。这样可确保与现有基础架构的最大兼容性和灵活性。此外,该工具还设计用于在高度、温度和湿度等极端环境条件下执行。这样即使在恶劣的条件下也能确保数据的可靠性和一致性。P8 prober是半导体器件和集成电路测试的理想解决方桉。它提供性能、准确性和灵活性,以及与现有基础架构的可靠性和兼容性。该资产的设计旨在对非常小的特征上的测量提供出色的控制,并且可以很容易地与自动化的取样和分析系统集成在一起。这使得它成为包括汽车和电信在内的许多行业的理想选择。