二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9031505 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种通常用于半导体器件测试的高精度探测器。它用于测量电子芯片上的微小图样，以确保它们符合质量标准。它具有可编程基板级和多级选项的自动化和灵活性,这两者都允许在单级或多级系统中进行高吞吐量测试。TEL P8还具有一个集成的热卡盘,即使测试已在prober的温度范围之外完成,它也能提供更高的测量精度。这种热卡盘的设计为亚微米测量精度提供了必要的热稳定性。TOKYO ELECTRON P 8也有广泛的工具可供方便测试。它可以与可编程测试系统（PTS）一起使用，以实现简单高效的操作。与其他系统相比,PTS允许更快地自定义程序,从而显着缩短了测试时间。TEL/TOKYO ELECTRON P8还具有特殊的选项,如针头探针卡,可进行细螺距探测,从而提高测试精度和可靠性。高级成像选项允许对设备进行高清检查,可以对其进行分析以进一步提高产品质量。TOKYO ELECTRON P-8的核心是其高精度级。此阶段提供了优于其他探针的精确度和可重复性,并且可以处理200毫米至300毫米的样本量。该装置具有自动尖端定心和多种工装功能,可确保探头与设备之间的精确接触。P8具有广泛的功能,是测试半导体器件的多功能且功能强大的理想产品。其特性确保了测试结果的高精度、重复性和可靠性。P-8是测试和分析设备的宝贵工具,可提供卓越的结果和改进的产品质量。