二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9161446 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一种半导体器件prober，设计用于检查、测量和测试各类集成电路（IC）元件。它被用于半导体器件的晶圆探测过程中，其中将探针插入器件的触点中，以测量器件的特性。这包括电阻和电容以及其他参数。TEL P8 Prober是一个全自动测试站，配备了快速计算模块、精确扫描控制机制、高分辨率图像处理设备以及强大的基于软件的分析套件。它为用户提供了一个完整的系统，能够在广泛的可编程温度范围内测试IC组件，而用户干预最少。TOKYO ELECTRON P8 Prober提供快速探针/针头定位精度和可靠的对准检查能力。其晶片卡盘（自动化晶片级）的设计是为了确保针压均匀分布在芯片的接触表面上，并最大限度地减少因不耐受样品造成的潜在晶片损伤。卡盘可在自动或手动模式下操作，可用于调节针头压力和运动。TEL P-8 Prober还配备了高分辨率视觉单元，用于检查接触前后的针头定位。视觉机器能够检测探针中的任何故障，还具有多个光源以优化测量精度。该工具安装在坚固耐用的防尘盖中,可在实验室和生产测试环境中提供可靠的结果。操作简单、用户友好,具有直观的触摸屏界面,使TEL P 8 Prober非常适合专家和初学者。最后,P8 Prober为寻求可靠、准确的设备测试资产的用户提供了一个理想的解决方桉,同时还得益于一整套灵活的测量参数、直观的用户界面和强大的软件功能。