二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9187686 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 Prober是一种高精度的晶圆探测/测试系统，使高精度、高度自动化的晶圆测试成为可能。TEL P8 Prober是半导体生产过程的理想选择，因为它能够同时探测单个晶圆上的多个站点，从而能够用于开发、原型和生产多个半导体产品。TOKYO ELECTRON P 8 Prober包含晶片级,精度高达5 μ m,晶片的真空锁定可实现无卡盘处理,以及6轴直线电动机驱动,以实现高精度。它还能够以10 μ m的精度提供准确的测试结果，并配备独立的偏置测量能力，用于高压电和低压电表征。P-8 Prober还具有自动晶片识别系统和自动对准晶片的视觉识别系统。Prober还支持范围广泛的晶圆尺寸，最大200毫米晶圆直径和小型2英寸晶圆探测可能。TEL P-8 prober还提供了复杂的宏编程功能，允许多个程序结构、基于操作码的程序编写和用户宏。此外，TEL P8 Prober提供了一个扫描控制选项，允许用户获得自动和引导位置扫描功能。它还支持多种探测模式,包括动态、静态和接触/非接触式探测模式。TEL/TOKYO ELECTRON P8 Prober提供晶片边缘补偿，确保测试结果的准确性，并提供50 kHz的测量速度。它还包含了一个"交换卡盘"功能，用于快速交换不同晶圆大小的传输卡盘。P8 Prober是半导体生产工艺的完美解决方桉。其令人印象深刻的特性和性能组合，使其成为生产半导体产品的理想之选。它能够快速准确地测试不同的晶片，并提供准确的测试结果，让用户改进生产流程，创造出可靠的半导体产品。