二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9238931 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一种广泛应用于半导体製造工业的prober设备。它旨在提供准确可靠的半导体器件参数测量，如电气测试和接触电阻。具体来说，TEL P8 prober可用于晶圆级接触探针测量，用于晶圆级器件表征，包括高频（HF）电测试。此外，其自动接触探针系统适用于半导体晶片的电阻和接触电阻的测量，包括抛光和金属化试验。TOKYO ELECTRON P8 prober的设计提供了广泛的设备测量，具有稳定的电气环境和先进的功能。它具有多个prober级，以适应不同的晶片类型，包括硅和复合材料。对其接触阶段进行了优化，以提供可靠的接触成形和等离子体诱导沉积，同时其探头机制确保了接触尖端的重复定位。此外,其精心设计的探针支架解决方桉提供了广泛的试验台配置,以满足特定半导体器件的独特需求。Prober系统配备了各种工具分析，如自动OCR扫描和图像捕捉工具，允许用户在测试过程中快速检查设备。此外,该单元还提供了一个交互式图形用户界面,允许用户以交互式方式可视化和修改其测试场景。此外,它还允许自动晶圆交换,以便在TEL主机和Prober之间直接交换晶圆以进行快速测试/修剪/打包操作。TEL/TOKYO ELECTRON P8 prober还具有先进的激光基测量功能。可以针对特定于设备的测试场景和温度管理对多通道烤箱进行修改,而其高级参数化测试套件允许用户同时捕获参数化和功能性影响。此外，它的探针卡机设计，以防止电磁干扰，并允许多个触点并行进行更快的测试和精确的测量。TEL/TOKYO ELECTRON P8是一种可靠且功能丰富的prober工具，适用于广泛的半导体制造和测试操作。它的先进工具和技术使用户能够获得准确和一致的结果，而其先进的温度、探针和基于激光的测试使用户能够同时捕捉参数化和功能性影响。