二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9401506 待售

TEL / TOKYO ELECTRON P-8
ID: 9401506
Wafer prober VIP3.
TEL/TOKYO ELECTRON P-8是一款先进的prober,旨在支持广泛的技术节点和工艺材料。凭借其高速运行,可以提供高精度的测试和探测服务。TEL P8 Prober的设计旨在提高操作可靠性、缩短周期时间和提高信号完整性。TOKYO ELECTRON P 8由介电和晶圆级的prober、stage module和处理程序接口组成。介电加速器具有光栅扫描仪、直接加速器技术和高精度多级卡盘。它能够探测多达66条µm线和空间,在≤ 3 µm厚的电介质层中精度优于0.1 µm。晶圆级探头可用于测量光刻图样、MEMS/NEMS结构和电源设备组件的电性能。该级模块提供晶片的快速沉降和精确放置,提供300晶片/小时的高吞吐量。TEL P 8还将自动晶圆级测试和探测与基于PCI的检测设备(IBIS)集成在一起。它可以测量漏电电流、电容、电感和电阻等参数,从而能够在大型基板上进行自动化的串联参数测试。此外,TOKYO ELECTRON P8融合了背面液晶显示(LCD)图样化和集成芯片级热表征等技术。再者,P8配备了多种高速光学成像工具,如UV微点投影系统、高分辨率光学检测子系统和数字成像子系统。在安全性方面,TOKYO ELECTRON P-8包括一个防御级的Prober故障检测单元和一个带有静态控制传感器的试验站。它还提供无中断控制机器,确保操作员的注意力始终指向特定的测试站或设备。这些高级特性的结合使得P-8成为故障分析、参数测试和质量控制的理想工具。
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