二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407573 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8是TEL Limited专门为半导体晶圆测试而设计的一款prober。它用于晶圆正面和晶圆背面属性测试。该设备以最新的FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）技术为基础，提供卓越的高分辨率成像、成像速度以及大的X-Y采样区域。该系统具有高精度的prober功能和高级功能,是测试各种设备和组件的理想选择。在晶圆表面上进行测试时,该单元可提供最佳的稳定性和准确性。它具有一个样品加载机制，使可变排列，安全和精确的样品探针。集成的框架集设计支持样品探针连接基座的安装，实现了快速、方便的样品探测。该机还采用摩擦板设计，可降低接触力，提高样品处理速度。内置的可编程TEL P8控制器有助于探针的自动化过程，并为样本对准和可编程运动提供指导。该控制器进一步配备了多种通信接口，允许数据传输到其他网络、测试系统以及其他通信协议。另外，TOKYO ELECTRON P 8有能力进行效率高、启动速度快的晶圆测试。该工具最多使用三个晶圆直径和各种样品到探针的配置。它还提供了高效的测试能力，得益于内置的加热机制和超低温技术。由于资产的超高扫描分辨率,因此完成的测试结果非常准确。这使得它非常适合微电子行业的精密测试。最后，TEL/TOKYO ELECTRON P8提供了一种主要为工业目的而设计的灵活而坚固的电缆模型。互连设计为能够很好地保护免受潜在损坏,模块化电缆设计提供了方便的维护和维修。总而言之,这款Prober是一款高性能、易于操作、高效的设备,可提供可靠、准确的测试结果。