二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #159278 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i prober是一种前沿晶圆检测和测试解决方桉,旨在为制造商提供可靠、高性能的prober解决方桉。利用先进技术，TEL P8I能够准确、快速地测量半导体IC和其他组件的物理特性。TOKYO ELECTRON P8 I能够自动检测和扫描任何硅或其他测试材料。设备的完全集成级力学和激光对准点允许高精度和可重复性。这样可以确保以最小的残留不规则性和可重复性进行复杂的测试。Prober配备了高速四轴级和高精度采样系统。这允许对IC、晶体管、电阻器、二极管等进行密集测试。TEL/TOKYO ELECTRON P8 I也可用于故障测井的生成和用于表征和鉴定测量数据的验证。TOKYO ELECTRON P-8i配备了各种测试解决方桉等选项，如自动多测试-探针-位置，提供高精度的测试结果。它还支持范围广泛的晶圆探针，如150 µm和200 µm扁平针脚、探针格栅和针头探针。这样可以根据客户的特定要求定制设备的操作。TEL P 8 I设计为高度可靠,具有一系列安全功能和自我诊断功能,可确保机器始终处于最佳状态。它还具有广泛的测试和用户支持功能,例如远程测试以及远程诊断和服务。这样,无论客户位于何处,都可以提高效率并为他们提供支持。自动化方面，TOKYO ELECTRON P8I拥有强大的软件控制工具和精密的软件算法，使其成为能够测试任何类型IC的完美prober解决方桉。它包括主动测试、绑定和最坏情况分析等功能，以及自定义算法开发。总体而言,P8I是一个先进且可靠的Prober,它具有完整的自动化功能,可提供清晰清晰的特性。它提供了经过优化以提供准确性、可重复性、速度和可靠性的先进prober解决方桉。