二手 TEL / TOKYO ELECTRON P-8i #9112017 待售

TEL/TOKYO ELECTRON P-8i是一种用于测量各类集成电路（IC）的电性能的高性能prober。Prober具有高度精确的介电光谱仪和高端的震级分析系统，使其能够测量电阻器、电容器、二极管、晶体管和其他半导体器件的特性。TEL P8I还可用于测量和分析组件在IC芯片上的对齐和定位。TOKYO ELECTRON P 8 I由一种最先进的介电光谱仪和各种各样的测量工具组成，包括4线电测、激光剖面图、X射线显微镜和纳米标记。这些工具协同工作，通过提供创建样本电路所需的信息来测量各种电路组件的特性。Prober还配备了强大的控制系统，可以准确高效地测量元件的电性能。Prober使用专门的算法来识别和测量电阻、电感、电容和电压等参数。然后,它将结果显示在易于阅读的高清屏幕上。这样就可以分析测量的参数，以便进一步评估和修改。Prober还具有灵活的测试程序,具有多种模式,允许用户根据需要自定义测试过程。TEL P-8i的便携式设计使其非常适合实验室和现场工作应用。它采用模块化设计，使用户能够根据自己的特定需求定制prober。它的铝结构对温度和湿度的变化具有很高的抵抗力，使其适合在恶劣的环境中使用。Prober还配备了内置的安全功能，可保护其免受电击和其他危害。TEL P8 I是一种高度精密可靠的prober，用于测量IC中使用的各种组件的电气特性。其先进的技术、强大的控制系统和灵活的测量模式使其成为集成电路故障排除和测试的必备工具。