二手 TEL / TOKYO ELECTRON PR300Z #293821718 待售

TEL/TOKYO ELECTRON PR300Z是专门为半导体晶圆测试而设计的最先进的载体。Prober能够测试单、双、三级晶片的顶级高功率半导体器件如晶体管、二极管和BJT。TEL PR300Z最大晶圆尺寸为30mm，最大晶圆厚度为2.5mm，总厚度为1.6mm。它具有高灵敏度的晶片边缘检测器，用于晶片的精确对准。TOKYO ELECTRON PR-300Z具有200纳米真空感应检测精度,以及先进的热成像系统,可快速识别晶圆上的温度变化、裂纹和缺失组件。其专利的热验证系统（TALV）提供了晶圆温度的彻底现场检查,允许用户确保其设备正常运行。TALV还允许在同一批中实施试点晶片运行,以确认在开始生产之前过程设置的适用性。该方法在主动检测晶片上的小缺陷和小缺陷方面非常有效，从而能够快速进行干预和解决。TOKYO ELECTRON PR300Z还具有可调型材功能，可以让用户快速调整prober的探头力、补偿压力和接触力。此功能有助于确保无论晶片之间的差异如何都可重复接触力,从而实现一致的测试。此外，PR300Z具有晶片模式的测试信号扫描能力，允许对各种功能进行过程验证测试。PR-300Z是一个高度可靠和先进的PROBER,具有广泛的功能,使其适合各种半导体晶圆测试应用。它易于使用和维护，使其成为任何半导体晶圆测试需求的绝佳选择。