二手 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293757966 待售

TEL / TOKYO ELECTRON Precio
ID: 293757966
Wafer prober.
TEL是一种用于评估半导体器件电气特性的仪器。该探头设计用于进行接触电阻测量,进而用于评估各种设备参数,如电气击穿电压、电流泄漏和其他设备性能标准。TOKYO ELECTRON PROBE是为各种材料表面设计的,包括金、铝和铜。该探头的设计目的是与设备表面接触,并具有与设备一致的特殊尖端和提供电气连接的插座。探头放置在设备上,然后使用专用测试系统测量探头尖端和插座之间的电流。电阻测量完成后,探头的结果可用于计算材料的电参量,然后可用于评估器件性能。TEL/TOKYO ELECTRON PROBER的测量精度可能会因特定设备的特性而有所不同,但通常探针提供出色的分辨率和重复性。探测器的价格因其评估设备的特定类型而异。例如,设计用于场效应晶体管的TEL prober通常比用于标准MOSFET的TEL prober贵。价格可以从500美元到高达4000美元不等。总体而言,TOKYO ELECTRON探针为精确测量材料电阻率和计算器件性能指标提供了绝佳的解决方桉。它们的探测器准确、可靠,并提供各种功能和价位,以满足任何设备评估需求。
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