二手 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293806769 待售

ID: 293806769
Wafer prober Nickel plated chuck Ambient temperature 480SQ Head plate WAPP Remote touch screen Interface: GPIB FOUP Loader, 12" Cassette, 8".
TEL是为晶圆探测应用而设计的prober。它是一个半自动探测站,便于晶圆和其他半导体元件的精确测试。Prober的设计采用XY运动阶段、高精度Z轴运动以及高速扫描设备,以适应众多晶圆探测任务。此外,该探头还包括一个低振动的三轴电机控制系统,以确保探测操作的最大精度。该单元还提供各种功能来支持自动晶圆探测和测试操作。它采用数字电路和模拟接口电路的组合设计,提供精确的晶圆探测和精确的晶圆面板处理。这使得它能够使用各种各样的晶片操作,包括标准的、CNA(Corner Notch Alignments)、非标准尺寸,以及各种非扁平的基板。该机器还允许高达4兆字节的高频操作。这样可以确保晶片测试和探测以所需的精度进行,以确保测试结果的准确性。该工具的用户友好设计使用户能够为晶圆探测设置广泛的探测序列。它还包含安全和监控功能,以帮助防止晶圆损坏。此外,prober带有四个复制阶段的样品分期。这为用户提供了各种晶圆尺寸和方向的灵活放置选项。此外,资产还包括自动匹配功能,使用户能够快速定位和识别晶圆中的芯片位置。这有助于确保获得最准确的测试结果。该程序还具有灵活的过程环境,具有各种数据采集选项,如晶圆对准、未对准补偿、信号完整性测量、热数据收集等。此外,此prober经认证符合EIA-JESD-228测试要求。这是测试产品电磁兼容性的标准。总体而言,TOKYO ELECTRON PROBER专为晶圆探测应用而设计,重点是精度和精确度。它提供了多种特性,提供精确的晶片探测和精确的晶片面板处理。该模型还具有灵活的工艺环境,以适应晶圆对准、错位补偿、信号完整性测量、热数据收集等各种应用。此外,它还被证明符合EIA-JESD-228测试要求。
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