二手 TEL / TOKYO ELECTRON Precio #293814265 待售

TEL是为测试集成电路和子组件而设计的半导体prober。该探头由高性能静电和机械卡盘以及探头组成,旨在提供超高密度探测能力和高通量性能。Prober还配备了一系列动态功能,这些功能旨在实现最高的工作效率和准确的探测操作。内置的可调分辨率和插值功能为用户提供了根据需要调整探头速度的灵活性。Prober的动态压力范围为0至1000 bar，最大插值速度为每毫秒10纳米增量，可用晶圆尺寸范围为8英寸至200 mm，倾斜范围为0至4度，以达到最大精度和可重复性。Prober的设计确保其准确性和可重复性保持在极严格的公差水平内。它配置了高恒力模式和低恒力模式,允许它同时使用多个探测器动态探测。推进器采用开尔文接触法，在整个探测过程中确保尽可能高的一致性和可靠性。接触法依赖于接触尖端与电子器件交界处电流的测量。此方法可确保多个探测器在测试阶段与设备同时接触。此外，接触压力可以由执行器调节和控制，以确保最佳接触力和精度水平。Prober还配备了一系列内置的软件工具和实用程序，这些工具和实用程序旨在促进测试和表征操作。高级分析工具允许用户测量一系列参数,例如信号完整性、版本合规性和稳定性。此外,软件实用程序还为用户提供各种可视化模式,如图形、图表和表格,这些模式旨在帮助就探测过程做出更加明智的决策。TOKYO ELECTRON PROBER是一种精确可靠的PROBER,它具有多种功能,旨在简化集成电路和子组件的测试和特性。这些功能的组合确保了最大的准确性和可重复性,同时降低了设备被错误保护和潜在损坏的风险。Prober还允许用户轻松调整探针压力和运动，为他们提供最高水平的精度和结果。