二手 TSE / MPI LEDA-6SFA #293757354 待售

TSE/MPI LEDA-6SFA是专门设计和开发用于先进半导体生产过程的一种载体。它是检查和测试尺寸从0.5mm到120mm的集成电路（ICs）以及探测小至25微米区域的理想载体。Prober具有六轴运动设备,可以对不同的设备结构进行精确、可重复和快速的探测。这种运动系统允许螺旋桨有效地访问设备上的不同点，同时也补偿晶圆倾斜和俯仰。该光学单元的设计是为了减少整体沉降时间和提供卓越的精度。此外，prober使用多级对齐技术。这使得prober可以对齐不同晶圆方向的多个平面。高水平的对齐精度可确保在下一级设备上准确放置触点。Prober还具有独特的高速多模具prober,可同时对多模具进行快速探测。这种多模具可以精确地访问和探测即使是最具挑战性的高收益率设备。Prober还使用低噪声架构，这有助于减少噪声干扰并确保高产率。该探头设计有多个探头，每个探头提供独立的独立接触压力调节和可重复接触压力。这有助于减少接触损伤,并允许更精确的探测。Prober还使用了高性能的闭环晶圆跟踪机。此工具在探测困难模具时提供了无与伦比的精度。此外,它还包括一个远程校准模块,允许客户监视和分析prober的性能。总体而言，TSE LEDA-6SFA prober是对先进半导体芯片进行精确、高产探测和检测的理想解决方桉。其高速多模具处理器、精确的对准资产、低噪声体系结构和远程校准模块使其成为生产过程中的绝佳选择。