二手 TSE / MPI LEDA-6SFA #9395487 待售

製造商
TSE / MPI
模型
LEDA-6SFA
ID: 9395487
优质的: 2008
Semi-auto wafer prober 2008 vintage.
TSE/MPI LEDA-6SFA是一种用于电子设备自动模具或封装级接触测试的接触/非接触式prober。这项先进的Prober技术提供了全面的应用,包括测试界面、接触式测试、模具级测试、最终船舶测试、探测、模块插入和移除分析、功能和接触式测试、烧入和模拟、自动对焦控制、高速接触精度评估、应力/接触周期测试以及热冲击测试。TSE设计LEDA-6SFA为了达到半导体行业质量和精度的工业标准。该模型是一个完全自动化的设备,为晶圆和其他电子设备的模具级测试提供了一个完整的六轴级。该型号配备了集成的模具级探头、接触传感系统,以及由最先进的数控控制器控制的自动晶圆移动器。作为额外的好处,它还可以配备广泛的探测机制,以满足特定应用的需求。该模型允许手动模具/封装对准和自动对焦控制。MPI LEDA-6SFA具有2.85 μ m步长精度、10 MHz数据速率和卓越的模具级测试仪精度。此外,它还具有高速热冲击能力,可以一次快速测试多达100个晶圆。该设计还采用了最新的隔离技术,确保相邻设备或设备发出的任何电噪声不会干扰测试过程。LEDA-6SFA还提供了完整的测试功能,包括内置功能测试、接触测试、Wi-Fi测试、摄像头测试、IC测试、软驱测试和OEM测试协议。这些功能允许在单个集成单元中使用全面的测试平台。TSE/MPI LEDA-6SFA配备了独特的机器配置,可以用于各种应用。总体而言,TSE LEDA-6SFA是一种先进的prober技术,旨在满足半导体行业的高标准。凭借其卓越的精度、广泛的测试能力和全面的应用,它是电子设备接触/非接触测试的理想解决方桉。
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