二手 TSE / MPI LEDA-8F 3G #9181633 待售

TSE / MPI LEDA-8F 3G
製造商
TSE / MPI
模型
LEDA-8F 3G
ID: 9181633
Semi-auto wafer prober.
TSE/MPI LEDA-8F 3G是一种用于半导体器件制造和测试过程中的prober。它配备了功能强大的工业PC,允许在自动化环境中进行精确的探针测试测量。该设备还采用了最新的探针卡技术,在每一个测试周期都提供了卓越的重复性和准确性。TSE LEDA-8F 3G的主要组件包括空间运动系统、控制器、测试仪、通用接口总线(GPIB)、数字以太网和自动处理器。空间运动单元由具有6轴线性定位器的3轴线性驱动器和跟踪prober精确位置的编码器机组成。此工具可以支持多个探针卡,从而实现快速而准确的测试。控制器是利用LINUX操作系统,提供高度直观的软件控制的多核处理器。这允许在测试点进行更高速度的数据处理,而无需外部测试PC。它还使MPI LEDA-8F 3G能够提供更复杂的测试语言来满足测试要求。该测试仪是适用于大多数测试应用的高速数字测试仪。它可以进行广泛的测试,如多通道数字、模拟、机电和定制测试。该测试仪还能够提供直流和交流测试信号。此外,可编程测试仪可以生成空白波形,从而可以开发新的设备而无需新的补丁电缆。LEDA-8F 3G还带有用于远程连接的GPIB。这允许TSE/MPI LEDA-8F 3G连接到半导体晶圆测试仪等外部测试系统。此外,还提供了一个数字以太网连接,它允许设备之间的高速数据传输。最后,TSE LEDA-8F 3G配备了5轴伺服电机控制资产打造的自动螺杆。这样可以使测试仪精确、快速地移动,并使自动测试成为可能。该模型能够同时测试晶圆和托盘级设备,使其适合许多测试需求。MPI LEDA-8F 3G prober是需要可靠、高效测试解决方桉的制造商和测试人员的理想解决方桉。凭借其卓越的准确性和可重复性、高速远程测试以及自动化功能,它为企业提供了多种提高生产和提高测试质量的方法。
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