二手 TSE P7000 #9144058 待售

TSE P7000是一种最先进的载体，用于各种半导体测试应用。它具有模块化的结构，可以根据半导体制造商的需求量身定制。它是一种多用途和高容量的prober,可为一系列参数提供准确、可重复的测量。P7000拥有广泛的视野，提供增强的检查能力。它具有可调节的聚焦、照明和角度补偿设置，以确保每个晶片更精确的参数。可调级有助于确保每个晶片的可重复精度,同时也可调节以适应一定范围的晶片尺寸和形状。TSE P7000的探头还具有用于多角度定位探头的高接头臂设计。P7000的功能集包括各种自动探针定位（APP）算法,这些算法能够以高精度沿各种轴进行探测。这确保了即使晶圆倾斜或弯曲也可重复对齐的可重复性。它还支持动态站点跟踪,使其能够跟上晶圆位置变化的步伐。此功能有助于最大限度地提高测试效率,并最大限度地减少探针接触和无接触测试。除了探测定位外，TSE还P7000能够测量一系列半导体参数。它可以测量光显微镜图像、电容和阻抗，以及真空和静态测量。此工具具有多个探针卡插槽,用于适应一系列测试配置。它还提供了一个快速处理器和多个软件包,用于自定义测试配置。P7000是一个多用途、精密的专家,能够处理多个半导体测试应用程序。它具有业界领先的功能和全面的功能,所有这些功能都可以根据客户的需要进行定制。TSE P 7000的模块化结构使定制工具以适应制造环境成为可能,从而确保在一系列应用程序中的顶级性能。