二手 WENTWORTH CMP-100 #114331 待售

WENTWORTH CMP-100
製造商
WENTWORTH
模型
CMP-100
ID: 114331
probe card test station.
WENTWORTH CMP-100是一种为硅集成电路器件的测试和探测而设计的处理器。该工具使用低k电介质、粘合铝、C4s和BGA焊球来测试和探测先进的半导体器件。CMP-100利用各种先进技术来精确控制每个探测器的行程,并将所需的电压和电流水平准确应用于被测设备。WENTWORTH CMP-100配备了独特、高精度、低k介电(LKD)材料,在信号追踪、信号分支和设备成像等方面提供各种好处。这种材料的开发是为了解决集成电路设计日益复杂的问题,并允许更高的信号追踪和传播精度。另外,LKD材料还产生信号分支和设备成像结果,可以比其他探针更准确。这prober也能够探测具有不同BGA焊球间距的设备,精度高达2.5微米。CMP-100的高精度和校准能力允许进行最精确的探针定位,从而产生尽可能最准确的测试结果。WENTWORTH CMP-100还采用了先进的C4技术,能够对多层/复杂组件进行快速高效的电气探测,以及结合铝技术,能够快速高效地探测难以到达的位置。除了精度和准确性外,CMP-100还具有多种安全功能,如过度保护电路,以防止损坏被测设备。此外,WENTWORTH CMP-100还具有各种用户友好的功能,例如用户友好的界面和健壮、可扩展的测试系统。这些功能使CMP-100成为测试和探测高级设备的宝贵工具。
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