二手 AMAT / APPLIED MATERIALS Opal 7830 #9238602 待售

ID: 9238602
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), parts machine.
AMAT/APPLIED MATERIALS Opal 7830扫描电子显微镜(SEM)是一种功能强大且用途广泛的分析工具,用于提供各种材料内部结构的详细三维图像。它提供了无与伦比的特性来分析和表征各种材料和过程。SEM包括一个集成的单色场发射电子枪(FEG),它提供远束电流和最小的热扩散,允许在最低电子束加速电压下的最高分辨率成像。7830 SEM具有可变光斑大小,可提供可变景深、可变分辨率和可变样品表面覆盖。它还配备了一个柱头来校正光束冷凝器像差,使其与可比的SEM系统区分开来。该装置配有集成电子枪,提供高亮度和角度稳定的光束。这可以实现极高的图像分辨率,并且通过利用EIG的长寿命,用户能够记录99秒的长扫描时间以生成并发ESD信号。7830采用特别设计的双光学设计,产生的图像与传统的扫描电子显微镜(SEM)相比具有更高的对比度和清晰度。7830 SEM能够在6.0 kV时实现0.5nm的更高空间分辨率,因此非常适合需要超高性能的应用。利用其自动化的标本传输系统,用户有能力快速更换标本,优化工作流程。7830因其先进的EIG技术而使用寿命较长,而其针对设备各种特性的电动控制范围使其简单易用。7830还可用于进行杂质分析以检测半导体材料中的污染。它具有探测颗粒和缺陷到0.1µm大小的能力,能同时进行能量色散X射线光谱(EDS)和分析扫描(AS)。7830配备了一系列工具,为多个行业的先进研究和工程提供支持。这些工具包括先进的图像采集系统、实时图像分析、3D图像重建、图像量化以及自动生成报告。AMAT Opal 7830 SEM对于那些寻求具有最大通用性和卓越性能的顶级SEM的用户来说是一个理想的选择。其无与伦比的灵活性和技术能力使其成为广泛的材料研究和分析应用的理想选择。
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