二手 AMAT / APPLIED MATERIALS VeritySEM 4i #9267330 待售

ID: 9267330
晶圆大小: 12"
优质的: 2010
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12" 2010 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeritySEM 4i扫描电子显微镜(SEM)是一种高性能、高分辨率的成像和分析系统。4i是一种可变压力SEM(VP-SEM),使研究范围广泛的样品和样品,从全水合有机样品到无机和金属化样品。15 kV时的4i分辨率为3.2 nm, 1 kV时的分辨率可提高到0.6 nm,以实现精细结构的最佳成像。4i配备了X电极检测器和4象限反向散射检测器,使用户能够测量样品的材料组成和地形。X-elerator探测器的聚焦光束光斑大小小于1微米,视野高达25微米。4象限、反向散射探测器具有20微米的视野,适合大面积、高灵敏度成像和照明。4i支持广泛的SEM模式,包括可变压力成像、加速电压成像、可变孔径成像、超快成像和带相位对比度成像。4i还支持可选的低真空(LVP)模式,用于研究水合样品和其他细腻材料,如那些难以与常规SEM成像的材料。4i能够在空气中成像样品,提供了消除真空室需求的优势。4i由功能强大、基于Windows的VeritySEM Workstation软件控制。该软件旨在为用户提供一系列用于样本成像、分析和测量的工具。VeritySEM Workstation还具有强大的脚本引擎,允许用户自动执行常规操作并优化样本准备。4i是广泛的材料测试和成像应用的绝佳选择。它提供高性能、准确的数据,并提供多种自动化功能来简化操作。4i提供了强大的成像和分析系统,使其成为任何材料测试和成像实验室的理想选择。
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