二手 FEI Altura 835 #293754406 待售

FEI Altura 835是为广泛的研究应用而设计的扫描电子显微镜（SEM）。这种先进的高分辨率成像系统使研究人员能够为包括材料科学、地球科学、生命科学和工程学在内的多种科学学科探索纳米级物体的微观结构。Altura 835具有多种增强用户功能的功能。其单色场发射枪（FEG）提供高加速度电压、精确对准和操作稳定性，以提供低噪声、高对比度的高分辨率影像给使用者。它超短的工作距离允许用户从物理尺寸很小的对象获取图像和数据。显微镜还具有高灵敏度低千伏检测系统，使研究人员能够从低千伏粒子和微量元素收集数据。FEI Altura 835的集成微分析能力让用户可以从纳米结构中获取化学和结构信息。这些分析基于多种技术，包括能量色散X射线光谱（EDX）、电子反向散射衍射（EBSD）、能量过滤透射电子显微镜（EFTEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）。这些能力使研究人员能够定量测量材料的元素组成、相邻结构域的晶体学取向以及纳米物体的原子解析的3D结构。收集到的数据也可以三维渲染，用于三维曲面和体积测量以及进一步分析。此外，Altura 835还配备了5轴电动倾斜台，用于样品的精确对准和定位。这有助于确保在实验过程中始终精确控制梁的角度、位置和工作距离。显微镜还提供了自动化的样品加载和先进的操作系统，使样品从装载阶段容易和有效地转移到显微镜室。总体而言，FEI Altura 835是用于纳米技术研究的强大工具，用于成像、分析表征和纳米结构操纵。这种先进的扫描电子显微镜被用于从材料科学到生命科学的一系列学科的各种应用中。