二手 FEI Altura 835 #293761494 待售

FEI Altura 835是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于高分辨率成像和分析能力。它是一个中级SEM,配置了高级成像功能,包括3轴扫描和数字图像裁剪功能以及易于使用的图形界面。SEM内部支持广泛的二次电子 用于形态和成分分析的（SE）探测器,包括固态反向散射探测器 （SBD），用于元素分析的能量色散X射线（EDX）光谱仪，液氮冷却超低损耗电子能量滤波器 （EELF）用于化学状态成像和分析，以及广泛的检测器，用于组合次级、反向散射和X射线成像。Altura 835采用了先进的噪声信号优化技术,能够捕获更多的成像细节,包括具有特殊低噪声设计的舞台信号放大器,以及各种滤波和信号增强技术,以优化信噪比。SEM还配备了高分辨率单色相机和各种x、y、z定位和缝合软件，以自动化和简化成像采集。FEI Altura 835的分析能力包括产生表面积、体积和粒度分布的自动样本表面噪声分析。此外，它还支持自动模式识别，以及像原子力显微镜（AFM）这样的表面结构测量。利用EDX检测器进行成分分析可用于表征纳米级元素分布，多通道设置用于同时测量多个元素，光谱成像用于区域解析元素分布的映射。为了最大限度地提高用户友好性和能力，Altura 835配备了自动化操作系统，简化了样品的准备和分析。这个自动化系统为测量过程提供了一个直观的用户界面，用户可以在其中实时可视化、控制和监控显微镜。此外,系统还配备了全面的软件工具和高级算法,可提供强大的数据管理、成像、数据可视化和分析功能。归根结底,FEI Altura 835是一个通用的SEM平台,具有先进的成像和分析功能,使研究人员能够高精度地探索材料和纳米结构并对其进行表征。