二手 FEI Altura 835 #9286978 待售

ID: 9286978
晶圆大小: 8"
优质的: 2004
Focused Ion Beam (FIB) system, 8" 2004 vintage.
FEI Altura 835是一种最先进的扫描电子显微镜(SEM),结合了先进的技术,在成像和分析标本表面时达到极致性能。它具有重型SEM柱和快速扫描阶段,提供精确的标本定位、快速扫描速度和高分辨率成像。该设备提供了广泛的分析能力,包括能够分析有机和无机样品中元素的能量色散X射线(EDX)探测器,提供了大量有关材料结构、组成和表面形态的信息。Altura 835还具有具有5轴偏转器系统的高分辨率电子柱。这个单元的三个2轴扫描偏转器提供非常快的扫描速度,同时保持优秀的源到样聚焦和图像质量。FEI Altura 835提供的高加速电压使其适合进行反向散射电子成像等多种成像技术。机器的倾斜阶段使用户能够获取多个倾斜角度的图像,以评估样本的表面拓扑。显微镜还提供了一种低压成像模式,能够观察非常脆弱的样品,而不必担心损坏或改变。Altura 835的高分辨率EDX工具提供了样本的快速元素映射。这使得它对于有机和无机材料的化学分析非常出色。EDX资产由检测器、EDX工作站和相关软件组成,能够快速轻松地进行元素映射。该探测器具有144个光谱通道的分辨率,用于无偏量化材料组成.FEI Altura 835为分析各种标本提供了广泛的特色。它配有一个大的样板室和工作区,使用户能够用舞台马达的hel监测三维标本的开发。它还包括磁性样本处理、数字编码器以及便于导航和定位多个标本的自动跟踪等功能。Altura 835是那些在扫描电子显微镜中寻找高级成像和分析能力的人的终极工具。其尖端的设计和技术使其成为获取高分辨率图像和分析材料结构和构图的理想工具。该模型的用户友好界面使用户设置和使用显微镜变得简单明了,为用户在调查样品表面时提供了一流的性能。
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