二手 FEI CLM-3D #293670547 待售

FEI CLM-3D是一种扫描电子显微镜（SEM），用于表征高分辨率样品的表面地形和微观结构特征。显微镜具有广阔的视野和较长的工作距离，非常适合捕捉详细的特征以及大规模的概述。CLM-3D拥有一个能够对纳米级结构进行高精度成像的真色室。这在成像需要光学或化学分析结构元件的样品时特别有益。真彩室还使用户能够获得可以交互查看的三维（3D）图像，也可以保存为数字文件。FEI CLM-3D利用高分辨率光学器件确保样品表面的精确成像。物镜具有很长的工作距离，允许更大的场深，同时仍提供满意的成像分辨率。此外,该物镜还具有高达30度的收集角度,可实现倾斜视图成像和确定纳米级特征的3D形状。CLM-3D还具有更快的采集速度,可以每秒捕获数千张图像。这样可以快速分析样品,大大提高生产率。FEI CLM-3D包括多功能软件,可促进信息的自动成像、分析和发布。软件配备了几个功能，包括自动缝合、多级切片、峰值/槽角强度分析。CLM-3D的模块化设计提供了一系列可供选择的配置,具体取决于所使用的应用程序。此模块化设计有助于减少停机时间、电气干扰和优化性能。总而言之，FEI CLM-3D是一种高精度扫描电子显微镜，为纳米级特征提供了优良的成像特性。适用于材料科学研究、纳米材料表征、半导体分析等多种应用。