二手 FEI FIB 200 #9082663 待售
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ID: 9082663
Focused Ion Beam System
Single beam
Pre-lens ion column:
Provides image resolution of 7nm and milling current up to 11nA
Enables deflection (for scanning) before the final lens, bringing the lens closer to the sample for best spot size
50x50mm XY stage, with rotation, tilt and z-motions
Loadlock with separate pump for fast sample exchange
Turbo pump for main chamber
Real time monitor to observe milling, aka Leader oscilloscope
Keithley Pico-ammeter to measure beam current
(2) GIS types to be selected from: EE, IEE, Metal dep (Pt) or TEOS
Chamber camera and monitor
Operating system: Windows NT
Computer control with FEI software and Seiko screen printer
Manual user interface (MUI), joystick and mouse controls
Manuals
(2) gas injectors with controller: choose from iodine, XeF2, Platinum, or TEOS gases
Line transformer (main), AC distribution box and Maintenance tool kit.
FEI FIB 200是一种先进的高分辨率扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料分析和材料表征等应用。它利用聚焦离子束（FIB）来允许对材料的内部结构进行高度放大的详细图像,以及能够以原子精度采集样品。凭借其先进的电子和光学系统，FIB 200提供了比大多数SEM更高的分辨率和更快的扫描速度。FEI FIB 200利用场发射源在极高电流下提供电子。这些电子被一系列电磁透镜聚焦，然后被阳极加速到样品上。当电子与样品材料相互作用时，它们产生不同的信号，然后被SEM系统检测到并处理成图像。FIB 200有一个球面像差校正器，使它能够获得较高分辨率的小特征图像。该系统中的聚焦离子束是样品制备的一个关键方面。FIB允许用户获取样品材料的一个区域并将其切成薄层进行进一步分析。这种切削工艺非常精确,可以使样品具有原子精度.它还允许去除表面原子，并将探针和底物沉积到样品中。FEI FIB 200还提供了一套图像分析和测量工具，使用户可以更精确地分析材料。这包括多维颜色映射和自动特征模板等工具。可以导出数据以进行进一步分析,也可以保存数据以供将来参考。总体而言,FIB 200是一款先进的SEM,配备了提供有关纳米材料的宝贵信息的工具。其无与伦比的精度和分辨率，加上其集成的FIB，使其成为材料分析和表征的理想仪器。
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