二手 FEI FIB 200 #9120060 待售
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已售出
ID: 9120060
Focused ion beam system
Single beam
Power supply
GIS:
Platinum deposition
Iodine etch
Currently installed
1996 vintage.
FEI FIB 200是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),设计用于一系列详细的表面成像和分析应用。这种先进的成像系统将聚焦离子束(FIB)技术与SEM成像相结合,提供卓越的性能和功能。它非常适合与纳米元件和技术有关的显微镜和微制造工作。FIB 200具有带电束室,可同时容纳电子枪和聚焦离子枪。电子束用于成像和分析,聚焦离子束(FIB)用于对样品表面进行微加工和去除晶粒。这样可以实现极小细节的出色分辨率和成像。显微镜操作的电压范围为0-30千伏,束电流为0-1000 pA。显微镜具有可360度进入样品表面的旋转样本级,可以自动索引到多个角度。通过对样本进行索引,可以在相对较大的区域中获取大面积成像和分析。为了改进生成的图像和分析,包括了一些自动化功能,包括自动倾斜和自动对焦。此外,还可以安装几个软件包,以协助图像采集、数据处理和与其他系统联网。除了成像和分析,这个先进的工具还允许直接写入纳米光刻。这是一个非常强大的功能,可用于薄膜沉积,图案,特定地点的制造,微加工,和其他纳米级的修改。总体而言,FEI FIB 200是一种高级、高度自动化的扫描电子显微镜,专为广泛的成像和分析应用而设计。电子与聚焦离子束技术的结合,强大的自动化,以及纳米光刻能力,使这款工具成为材料分析和纳米级操纵的完美仪器。
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