二手 FEI FIB 200 #9178157 待售

FEI FIB 200是来自FEI的高分辨率、创新的扫描电子显微镜（SEM）技术。这种先进的扫描电子显微镜简化了对纳米级材料和物体的观测。它利用聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜的组合，提供强大的成像能力和样品制备选项。FIB 200将高能FIB系统和高真空场发射扫描电子显微镜合并为一个仪器。强大的FIB系统支持更大的分析能力,提供低寄生束电流和四束操作。这样就可以精确分析各种曲面上的小特征和特征,并提供出色的图像对比度和分辨率。FEI FIB 200的场发射扫描电子显微镜效率高，提供任何样品表面或材料的精湛图像，即使在较低的加速电压下工作。它支持元素和晶体学模式下的成像，并包括自动SEM对准，因此用户可以独立聚焦和倾斜样品。FIB 200的其他功能包括交互式操作面板、大视野和用于示例导航的自动化软件系统。易于使用的界面和自动面板操作允许快速导航到示例中所需的区域,因此可以更快速地执行分析,而且工作量更少。对于样品制备,FEI FIB 200提供了多种切割选项以及倾斜和修改样品的能力。根据用户的要求，样品可以高精度切割、铣削、瘦身或抛光。FIB 200提供的FIB和先进SEM的强大组合，是分析和评价纳米尺度材料和物体的绝佳选择。这台用途广泛、可靠的机器能够满足高精度和高生产要求,即使在一系列表面和材料上也能轻松观察到最精致的特性。