二手 FEI FIB 200 #9179238 待售
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ID: 9179238
优质的: 1999
Focused ion beam system
Magnum ion column
Gallium liquid metal ion source (LMIS)
CCG Vacuum gage
CDEM Detector
(5) Axes compucentric
Stage XYZ: 50mm x 50mm x 25mm
Computer controller: Windows XP Pro SP3 (2002)
FEI xP UI
MUI Controls and joystick
CCD Chamber camera
TMP With mechanical roughing pump
(12) Positions aperture strip
(2) GIS:
Platinum GIS
Xenon difluoride GIS
Includes:
Transformers
Power supplies
Gas injectors:
XeF2
Idep
Pt
FEI / MICRION Vectra 986
Particle beam system
I-Gun type: 5nm Column
Beam current: 3pA~931pA (50KV)
1999 vintage.
FEI FIB 200是一种场发射扫描电子显微镜（FESEM）。它是一种电子显微镜，利用低能量、高分辨率的扫描电子束获得清晰清晰的图像。FIB 200由一对包含电子源的同心圆柱体和与电子束平行的探测器组成。电子源是由一种场发射枪（FEG）产生的，它是一种利用强电势场发射电子的电子枪。在两个同心圆柱体之间加速的电子撞击标本网格，形成二次电子和反向散射电子的模式。这些电子共同形成了一个图像，揭示了样品的结构和特征。该装置还具有0.1-200 pA的可变电子束电流和0.1-30 keV的可变加速电压，使研究人员能够获得最精细的图像。此外，FEI FIB 200使研究人员能够使用一系列成像技术，包括：二次电子成像、分析扫描小通道成像、反向散射成像和能量色散X射线（EDX）分析。FIB 200还为样品制备、分析和改性提供了多种选择，包括：冷冻制备、超微切开、离子铣削和气体注入系统。通过将此仪器的功能与传统SEM的功能相结合,研究人员和工程师都能够以最高的精确度实现其期望的结果。FEI FIB 200系统操作简单、用户友好、高效，是各类实验室必不可少的工具。由于该系统具有众多优势,用户可以期望在查看样本样本时获得更高的准确性,并在分析和成像方面获得惊人的结果。
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