二手 FEI FIB 800 #9195240 待售
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ID: 9195240
Focused ion beam system
Missing part: Turbo pump
Gas injection system (GIS):
Delineation etch
Enhanced etch
Insulator enhanced etch
Platinum deposition
Carbon mill
Tungsten deposition.
FEI FIB 800是一种用于分析多种材料的扫描电子显微镜(SEM)。它利用强电子束扫描样品并产生高放大倍数的图像。电子束由真空室中高压操作的钨丝产生。该系统能够产生高度详细的纳米探针,用于以高分辨率捕捉图像。FIB 800的分辨率高达2000 nm。样品被安装在一个与一系列线性电动机相连的舞台上,这些电动机可以用来以小步长移动样品。光束通过电极和各种透镜聚焦到样品上,产生很大的视野。检测器用来捕捉电子与样品相互作用产生的信号。然后,数据将用于创建可分析特征和缺陷的图像。FEI FIB 800配备了多种有用的功能,包括一系列电子设备、真空泵、电源和冷却系统。它也有三轴和遥控系统,允许对样本阶段进行遥控。加速电压可以从0.1调整到30kV,可调节的光束电流对分辨率提供额外的控制。FIB 800是用于检查和分析从金属到半导体的各种样品的通用工具。它以高放大倍数生成高质量的图像,帮助工程师和研究人员深入了解其材料的特征。FEI FIB 800的特性和可调节性使其成为各种显微镜应用的理想选择。
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