二手 FEI FIB 800 #9200349 待售
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ID: 9200349
Focused Ion Beam (FIB) system
Does not include:
GIS
Columns
Circuit boards
30 kV High voltage boxes.
FEI FIB 800是为高级成像应用而设计的高端扫描电子显微镜（SEM）。它配备了先进的分析包，其中包括一个能量色散X射线光谱仪（EDS）、一个波长色散X射线光谱仪（WDS）和一个Au-metal蒸发器，以方便表面敏感分析技术。该仪器用于材料科学、地质学、半导体工程和生物学等多个学科的亚纳米级成像和分析。FIB 800在成像能力上能够显示极高的细节和分辨率。SEM利用一种独特的扫描电子束，在多种不同的束能量下运行，得到二次电子、反向散射电子、光谱分析、能量损失光谱法和低压成像。这样可以非常精确地捕获和分析极小的对象,例如病毒或晶格。成像区域的照明也可以变化强度，并且可以调节，以适应各种样品厚度和表面条件。FEI FIB 800有一个装有电控试样级的腔室，可实时成像静态和动态过程。这一阶段在以非常低的惯性和振动移动样品方面具有很高的精度和精确度，这在对易碎或生物样品进行成像时尤其有益。EDS使用户能够识别和分析样品材料的元素组成。WDS用于检测和量化当光束被电子轰击时从样品发出的X射线的组成，而蒸发器则使溅射或沉积到样品表面上。此外,该仪器的成像能力通过其内置的分析软件进一步增强,该软件可用于测量样品特征的面积、强度、边缘清晰度甚至表面元素。FIB 800功能强大、精密,能够对各种样品执行各种复杂的成像和分析任务。其卓越的分辨率和广泛的分析能力使其非常适合各种成像应用。
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