二手 FEI FIB-800XP #9104016 待售

FEI FIB-800XP是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），非常适合各种纳米级成像和分析应用。它提供了一个更高的分辨率，能够成像和分析样品低至0.1nm。该800XP在双束系统上运行，以获得最佳的灵活性，允许用户在电子束诱导沉积（EBID）和聚焦离子束（FIB）铣削等用途之间切换。SEM主列提供了多种特定于站点的成像和特征描述功能。一个独特的、坚固的环境确保了最优样品的保存与最小振动，最小化样品损坏的风险。电子束由热电子场发射枪（FEG）发射器产生，该发射器在有限的能量范围内发射电子。这样可以通过更好的图像对比度来确保更高的图像质量,这种对比度的特点是具有更大的聚焦深度和更高的灵敏度。除了先进的SEM成像之外，FIB-800XP还包括一个用于FIB操作的柱内离子束磨机（IBM）。IBM由Ga离子源供电,用于精确的FIB铣削和沉积。它具有构建具有高分辨率结构清晰度的3D结构的能力。该800XP有一个数字探测器，它可以捕获更多的列中的排放物，为3D分析提供最高质量的图像。800XP还包括利用能量色散X射线光谱分析表面成分的能力。该系统可用于捕获样品中元素的分布以及它们之间的化学键的信息。该800XP还提供了自动操作电子束的必要软件，用于分析成像和光谱。这包括旨在最大化效率、提高数据准确性和减少操作错误的高级自动化功能。FEI FIB-800XP具有双光束技术、高分辨率SEM成像、FIB铣削和EDS功能,为研究人员的纳米级研究提供了先进可靠的工具。因此,这些功能结合其最先进的设计、灵活的特性和高性能,使其成为各种成像和分析任务的理想选择。