二手 FEI Inspect-F #9284147 待售

FEI Inspect-F是一种扫描电子显微镜（SEM）系统,专门设计用于结构分析和检查各种材料和半导体器件。Inspect-F提供低压成像功能,提供一系列选项,包括反向散射电子成像、二次电子成像和阴极发光成像。低压成像有助于提供样品表面层的详细图像，从而能够对对于普通SEM来说太小的超细样品进行成像。FEI Inspect-F具有高达1nm的卓越分辨率,该功能允许对材料的纳米级特征进行放大视图。它还配备了数字信号处理器,可帮助快速记录和处理图像。在精确度方面，该SEM有一个自动化的固态漂移校正系统，有助于保持标本的位置在不同放大倍数下准确；这有助于保持成像定位的准确性并提高样品分析的速度。该仪器的特点是有一个锁载室和一个自动交换站，为用户提供各种处理和分析样品的选择。这包括样品选择、清洗、准备等。样品室可以冷却或加热，以确保样品在观察时始终保持在最佳操作参数内。Inspect-F包括各种高级成像选项,如自动特征检测、图像缝合、3D图像等。这有助于更详细地了解所分析的样本。出于研究目的，FEI Inspect-F包括电子束、电子探测器、信号处理系统、图像处理软件等广泛的分析工具。有了这些，用户甚至可以绘制出标本特征中最微不足道的细节。Inspect-F是一种先进而有力的工具，它提供对任何样本的透彻分析和检验。这种扫描电子显微镜具有多种先进的特征和成像工具，提高了获得的数据的准确性和样品分析的速度。它的特点，加上高达1nm的非凡分辨率，使得这种仪器成为任何寻求探索材料和装置的复杂细节的研究者所必备的。