二手 FEI Inspect F50 #9224409 待售

FEI Inspect F50是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于材料的无损分析。它提供了一系列功能来提供最高质量的成像技术,包括高级设计和工程,以提高样品吞吐量、出色的分辨率和准确性。Inspect F50装有柱内能量滤波器，可提升分辨率，提供更精确的样品细结构成像。此外，柱内检测器是可调的，以提供对比度和整体视场的理想平衡。这确保了操作员能够达到最佳对比度和图像质量,这对于查看材料的薄层特别有用。柱内能量滤波器还降低了样品接收到的总电离剂量（TID），使其成为损伤敏感材料的理想选择。FEI Inspect F50还具有多种高级成像选项，包括反向散射电子（BSE）成像、可变压力成像和电子反向散射衍射（EBSD）成像。SEM的反向散射电子模式使操作员能够检测样品的元素组成和化学状态。可变压力成像在低真空下提供更高质量的成像，使其成为涉及化学改变的应用的理想选择，如腐蚀映射和水合样品成像。最后，EBSD成像可用于分析样品的晶体学结构，这为分析样品的性质和行为提供了重要的见解。Inspect F50还具有一系列人性化的特点，使样品制备、成像、分析简单明了。例如,通过xyz和theta控制,舞台电机提供了广泛的行程,因此用户可以快速准确地将样品移动到适当位置进行成像。此外,操作控制台还可以轻松访问所有显微镜功能和设置,使专家和新来者都能利用SEM的功能。总体而言，FEI Inspect F50是材料研究和分析的优秀SEM。它结合了先进的成像功能和直观的操作系统,使其成为研究实验室和行业的理想选择。