二手 FEI Inspect S50 #293605298 待售

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ID: 293605298
优质的: 2017
Scanning Electron Microscope (SEM) Gun type: W Motor stage: X, Y, Z, R, T Vacuum: Turbo, rotary Manual 2017 vintage.
FEI Inspect S50 Scanning Electron Minccope (SEM)是一种高端成像仪器,能够在高放大倍数下生成极其详细的小物体图像。它使用聚焦的电子光栅通过一系列放大倍数成像,并具有捕捉多种物理和化学性质的能力。Inspect S50提供了全面的成像能力,具有出色的信号检测、精确的化学和元素映射以及精确的X射线光谱能力。其专用软件允许对一系列材料进行精确的数据分析。FEI Inspect S50由于分辨率高,具有纳米级的成像功能。显微镜的放大倍率范围从2,500倍到高达120,000x,具有广阔的视野。超大的景深使研究人员能够以高放大倍率以惊人的清晰度和准确性捕获大样品。在空间分辨率和聚焦深度方面都有很高的检测限制,这使得Inspect S50非常适合检查精细结构以及识别和量化样品中的薄层。卓越的成像功能还提供了出色的3D信息,并对各种材料中的微缺陷和微粒进行了高分辨率映射。除了卓越的成像能力外,FEI Inspect S50还提供先进的分析工具,包括用于识别样品化学和元素组成的能量色散(EDS)和波长色散(WDS) X射线光谱。这意味着用户可以精确准确地分析样品的材料成分。总体而言,对于需要强大、用途广泛的成像系统来帮助他们进行研究的科学家和研究人员来说,Inspect S50是一个极为有用的工具。其出色的成像能力和高端分析工具使其成为需要对小物体进行详细、精确分析和成像的人的理想选择。
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