二手 FEI Inspect S50 #293624510 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 293624510
优质的: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) THERMO NORAN Ultra Chamber Secondary and backscatter detectors Dry XRF System Pumps PC Manuals 2012 vintage.
FEI Inspect S50是一种用于研究和材料分析的扫描电子显微镜(SEM).这种高分辨率的SEM允许在宽范围内快速精确地成像,放大倍数可达500,000倍。检查S50功能的特定数字探测器地形成像有机和无机材料。它的数字相差成像技术能够让用户检查生物系统的各个发展阶段,从细胞壁到特定的生物分子。其数字闭环控制技术提供精确扫描,具有较长的运行寿命和快速的数据采集,产生高对比度成像。集成的CCD摄像头和图像控制器具有先进的图像处理和即时过滤功能。这些成像功能与直观的用户界面相结合,使具有有限SEM经验的操作员能够产生可靠、可重复的结果。FEI Inspect S50还提供了许多高级自动化选项,例如跨大视野的自动快速扫描、自动图像缝合和自动数据分析。板载预扫描色度和方向校正系统最大限度地减少了下游分析时间并提高了吞吐量。检查S50还配备了一个环境室。这使用户能够在受控环境中对未覆盖的样品进行成像和测量。集成加热和冷却、自动气流控制、样品环境监测等特点使得即使是最精致的样品也能保持精确的环境条件。总之,FEI Inspect S50是一个高分辨率的SEM,它提供了高级成像和自动化功能,可实现可靠、可重复的结果。它能够产生放大倍数可达500 000倍的地形图像,其环境室允许它在受控环境中对未发现的样品进行成像和测量。该系统非常适合任何材料分析和研究应用。
还没有评论