二手 FEI Inspect S50 #9150862 待售
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ID: 9150862
优质的: 2010
Scanning electron microscope (SEM)
Windows 2000
Tungsten hair pin type
TMP vacuum system
SE / BSE / CCD / ESEM option
Fully motorized stage system
XL 30 chamber system
Ion coater SPI
Anti vibration system
2010 vintage.
FEI Inspect S50是一种扫描电子显微镜（SEM），具有独特的成像、分析和快速3D断层扫描功能。该S50的分辨率为0.8 nm,使其能够生成具有卓越细节的图像。它还拥有300毫米的工作距离,允许用户快速、轻松地制作高达120 x 160mm的样本图像。Inspect S50还有一个额外类型的电子探测器，它允许用户测量样品的厚度和组成而不会损坏样品。这是通过电子反向散射衍射（EBSD）探测器实现的。EBSD检测器也可用于现场测量样品中的应力和应变。该S50还提供了一系列其他功能。它具有测量纳米范围内薄层的能力。这是由微波束系统实现的，该系统提供了具有高达4KV加速度电压的可重复数据采集。该S50还带有集成光谱仪，允许用户测量X射线发射或反向散射光谱，以准确确定材料成分。此外,该S50还具有先进的3D断层扫描功能。借助高达43nm的三维分辨率,用户可以以前所未有的细节生成微小结构的重构。该S50还提供了高级成像功能,例如自动缝合功能,允许用户将图像缝合在一起,生成具有更大图像细节的更大图像。总体而言,FEI Inspect S50是一种出色的扫描电子显微镜,用于成像、分析和3D断层扫描任务。该S50具有出色的分辨率、较大的工作距离、广泛的探测器和先进的成像功能,能够生成各种尺寸和材料样品的详细和准确的图像。
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