二手 FEI Inspect S50 #9159235 待售
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ID: 9159235
优质的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary Electron Detector (SED)
Large Field Detector (LFD) low vacuum
GBSD Included
IR Camera for viewing sample in chamber
Electron beam current measurement
Color optical camera for sample navigation
Tungsten hair pin type
TMP Vacuum system
Fully motorized stage system
XL 30 Chamber system
USB Connecting board nonfunctional
70 l/s Turbo Molecular Pump (TMP)
Patented through-lens differential pumping
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Oil rotary pump
Chamber vacuum (High): 9.10-4 Pa
Chamber vacuum (Low) < 10 to 270 Pa
Evacuation time:
≤ 150 s to (High vacuum)
≤ 270 s to (Low vacuum)
Low vacuum:
3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)
10 nm at 3 kV (SE)
Sample holders:
Multi-stub holder
Single stub mount
Mounts directly on to stage
Wafer and custom holder
Does not include:
Scintillator BSED / CLD
Low Voltage Contrast Detector (VCD)
High Contrast Detector (CD)
Gaseous Analytical BSED (GAD)
Cathodoluminescence
WDS and EBSD
Stem detector
Packing list:
Main chamber with desk for display
(2) Control PCs
(2) Monitors
Oil rotary pump
Control pad
Keyboard
Operating system: Windows 2000
2010 vintage.
FEI Inspect S50是一种通用、可靠的扫描电子显微镜（SEM）.这款放大镜的放大倍率高达五万倍，非常适合需要卓越细节的应用。它能够使用二次电子、反向散射电子和透镜检测器系统来观测所需样品。该设备采用独特的镜头内探测器工艺，以最大限度地提高准确度并创建样品的清晰图像。作为一个额外的好处，该检测器最小化矩阵干扰和消除失真，导致优于其他SEM的图像。对于那些需要精确高效扫描电子显微镜的人来说，检查S50提供了广泛的用户友好功能，使其成为理想的选择。该系统包括数字X射线探测器、自动漂移校正单元和快速扫描功能，使其易于使用并提供高效的标本成像。除了全面的扫描功能外,FEI Inspect S50还提供了多个外围设备系统以进行进一步分析。其中包括用于改进温度调节的低温机，以及用于特殊分析的环境扫描电子显微镜（ESEM），如超低真空成像。其他功能包括全自动校准、高级扫描技术、具有卓越分析能力的双检测器设计以及大量附件。检查S50提供高性能成像功能和各种功能,使其成为需要高分辨率和细节的样品的理想工具。它易于使用的设计和全面的外围设备系统使其成为各种专业应用程序的理想选择。
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