二手 FEI Inspect S50 #9293781 待售

FEI Inspect S50
ID: 9293781
Scanning Electron Microscope (SEM) With EDX.
FEI Inspect S50是一种扫描电子显微镜(SEM),用于多种行业的环境表征、成像和分析测量。它是一个多技术平台,可以在单个显微镜上进行定性分析和定量成像。检查S50利用最新技术,结合了SEM、EDX和EBSD功能的独特组合。这提供了极高水平的成像精度和细节,远远优于传统的成像方法。这台机器具有一个大的,高分辨率的彩色显示屏,可以方便地观察图像在各种放大。一个独特的导览导航程序可以实现准确的操作。FEI Inspect S50的微观模式允许分析亚微米级的材料,提供比其他方法更高的分辨率。Inspect S50的能量色散(EDX)光谱功能允许元素组成分析,使用户能够检测和分析元素浓度,即使元素的含量很低。一个独特的能量过滤电子反向散射衍射(EBSD)提供无与伦比的控制方向和晶粒尺寸的材料。FEI Inspect S50有两种版本:普通版和导电版。普通版本的Inspect S50具有高水平的成像分辨率和速度,工作电压高达30kV。FEI Inspect S50的导电版本提供了高达45kV的更高工作电压,并结合了更高的图像分辨率和更快的速度来进行更高的性能分析。检查S50是为最终的操作可靠性而设计的。平台设有集成真空系统,为稳定安全的工作环境提供高残余压力和优化电离水平。这允许长时间的不间断操作,而无需日常维护。FEI Inspect S50是用于环境特征、成像和分析测量的高效工具。它具有独特的SEM、EDX和EBSD功能组合,具有高水平的图像分辨率和速度。集成真空系统确保了超稳定的环境和可靠的长期使用,而高达45kV的高工作电压提供了进一步的精度。
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