二手 FEI Magellan 400 #9162822 待售
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已售出
ID: 9162822
优质的: 2010
Scanning electron microscope (SEM)
Extreme high-resolution (XHR)
Sub-nanometer resolution: 0.8 nm at 30 kV
Very low voltage / Bias activation: Imaging of non-conducting materials
Resolved surface and materials imaging
Chemical
Crystallographic
Options:
STEM Detector
Quick loader
Navigating camera
(2) Monitors
Computer
Not included:
EDS
Active vibration system (Floor isolator)
2010 vintage.
FEI麦哲伦400是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),专为多种研究和工业应用而设计。该系统具有广泛的功能,包括高分辨率成像、分析和处理样本。麦哲伦400提供高分辨率成像和易于使用的控件的独特组合。利用场发射枪(FEG)源,在标本阶段可以同时观察到二次电子和反向散射电子。高对比度和高分辨率成像增加深度和放大可以与SEM。此外,由于电子束点较短,FEI麦哲伦400具有较高的图像对比度和精细的细节。麦哲伦400利用一个通用的样本阶段和自动扫描功能,允许进行广泛的研究。它配有薄膜涂层单元,可用于在成像前溅射涂层样品。它还具有低能束电流探测器,可以分析非常薄和/或细腻的材料。SEM可以与照相机和计算机等外部设备连接,包括成像和分析软件包。FEI Magellan 400采用直观的用户界面和可定制的操作员选项设计,使其成为各领域科学家的宝贵工具。其扫描和成像能力可用于研究范围广泛的样品,从无机材料到生物样品。研究人员可能利用SEM来研究一系列现象,从陶瓷复合材料的微观结构到激光照射对神经元细胞的影响。麦哲伦400是一种多功能仪器,满足各个研究和工业领域的需求。它是对各种材料进行高分辨率成像和分析,以及操纵用于高级研究的标本准备工作的有力工具。FEI麦哲伦400是科学研究和工业生产必不可少的设备,满足了广泛学科用户的需求。
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