二手 FEI Magellan 400 #9180764 待售
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已售出
ID: 9180764
Scanning electron microscope (SEM)
Extreme high-resolution (XHR)
Sub-nanometer resolution: 30 kV down to 1 kV
Resolved surface and materials imaging
Options:
STEM Detector
Quick loader
Navigating camera
(3) Monitors
(1) Computer
Not included:
EDS
Active vibration system (Floor isolator)
Currently de-installed and crated.
FEI麦哲伦400是一种扫描电子显微镜(SEM),广泛应用于多种研究和行业应用。麦哲伦400是一款功能强大的SEM,提供多种成像模式,包括二次电子成像、反向散射电子成像、电子束感应电流成像以及被称为4D成像的新型成像模式。这种4D成像模式将所有三种成像模式组合在一个帧中,以提供更高的对比度和很难单独使用任何成像方法检测到的特征。FEI麦哲伦400配备了独特的电荷控制系统,使其能够以非常低的噪声水平和高对比度捕捉图像。它还具有独特的电流控制系统,允许用户实时控制电子束波形。这样就可以生成一个以上的波形并生成可用于增强图像中对比度和细节的特定模式。麦哲伦400还配备了高端的X-Y样品级,提供了对样品平移和旋转的精确控制。样本阶段还可用于分析高放大倍率的表面特征,如地形和图样特征。此外,显微镜包括一个内置光源,允许在透射光中直接观察样品,使其成为光学分析的宝贵工具。FEI麦哲伦400能够提供成像和分析能力。它提供同步成像模式的能力和很长的工作距离使其成为材料科学和半导体应用的理想选择。其精密的分析和成像模式使其适合于医疗诊断、纳米技术和其他研究及工业应用等市场使用。该仪器可用于成像各种材料,包括金属、半导体和聚合物,以及生物样品。总体而言,麦哲伦400是一种多功能扫描电子显微镜,为各种应用领域提供高分辨率成像和分析能力。该仪器可用于捕获低噪声水平和高对比度的图像,产生多个波形,分析地形和图样特征,以及在透射光中观察样本。
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