二手 FEI Nova 200 #293809623 待售
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ID: 293809623
优质的: 2004
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM)
2004 vintage.
FEI Nova 200是一款功能强大的扫描电子显微镜（SEM），专为先进的材料研究、半导体分析和故障分析应用而设计。它采用了一系列创新技术,能够对各种样品进行高分辨率成像、元素分析和表征,并具有卓越的精确度和细节。Nova 200的关键特徵之一是它的野外发射枪（FEG），产生高亮度和相干性的强烈电子束。与传统钨丝相比，这可以提高空间分辨率，提高光束电流，增强信噪比。FEG还能够快速切换光束和精确定位探针,非常适合要求苛刻的成像任务和分析技术。FEI Nova 200配备了先进的检测系统，提供有关样品组成和结构的宝贵信息。能量色散X射线光谱（EDS）检测器可以进行高灵敏度和精确度的元素分析和制图，而波长色散X射线光谱（WDS）检测器为识别微量元素和量化成分变化提供了增强的光谱分辨率。除了EDS和WDS功能外，Nova 200可以分别用电子反向散射衍射（EBSD）和阴极发光（CL）探测器升级，用于晶体学取向映射和发光研究。这些可选的探测器扩展了显微镜的分析能力，使研究人员能够更详细地研究材料的微观结构和性质。FEI Nova 200配备了多用途的标本室，可容纳广泛的样本类型、大小和形状。它具有多种成像模式，包括高真空、低真空和环境SEM，允许在不同条件下对导电和非导电样品进行成像。该腔室还兼容各种样品持有者和阶段进行原位实验、机械测试和热分析。Nova 200的显微镜控制软件用户友好且直观,具有可定制的界面以及自动成像和分析例程。该软件可实现快速、高效的数据采集、处理和可视化,便于解释复杂的图像和光谱。通过软件界面可以轻松访问深度分析、元素映射和3D重建等高级成像技术。FEI Nova 200专为高吞吐量和生产率而设计,具有快速的映像采集速度、强大的硬件组件和自动校准例程。它由服务工程师和应用程序专家组成的全球网络提供支持,他们提供培训、维护和技术支持,以确保最佳性能和正常运行时间。总体而言，Nova 200是一种最先进的扫描电子显微镜，为各科学技术领域的研究人员和工业用户提供无与伦比的成像和分析能力。
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