二手 FEI Nova NanoSEM 400 #9282097 待售

FEI Nova NanoSEM 400扫描电子显微镜（SEM）是同类仪器中最先进的仪器之一,为质量控制和研究目的提供材料的纳米分辨率成像。这种SEM利用高分辨率电子探测器捕捉各种材料中样品的高分辨率图像，包括金属、聚合物、复合材料、木材复合材料和半导体。它所产生的图像比传统的成像方法亮度高十倍，并且可以放大样品高达原始尺寸的40万倍。Nova NanoSEM 400具有多种功能,能够提供高质量的图像。高分子重量的镜头提供了宏伟的图像质量在广泛的放大。它的低振动电动级使用户能够快速准确地移动,以便准确地测量或绘制样本中的特征。此外,FEI Nova NanoSEM 400还允许通过其自动导航功能轻松浏览详细的样本图像,该功能可在几秒钟内自动引导电子束覆盖整个样本。这种扫描电子显微镜还配备了能量色散X射线探测器，能够分析样品内的元素组成。该系统非常适合分析合金的分离和特定元素的浓度，以及测量样品中不同元素的比例。此外，NanoSEM 400还包括一个超光谱成像系统，使研究人员能够同时捕获多波长的各种图像并获得样品的整体视图。Nova NanoSEM 400提供通用的样品分析。它能够产生分辨率低至4nm的2D和3D图像。也适用于生物样品、地质样品、矿物等非导电材料成像。它甚至可以用来测量材料的变形，例如由于机械应力而产生的新特征的成核和生长。总体而言,FEI Nova NanoSEM 400是一款功能极其强大且精确的工具,其性能远远超出了传统的成像技术。它非常适合在研究和质量控制环境中的各种自动化分析和检查应用。