二手 FEI Nova NanoSEM 450 #293809852 待售
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ID: 293809852
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
High vacuum imaging, optimum WD
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)
1.4 nm at 1 kV (TLD-SE) without beam deceleration
3.5 nm at 100 V (DBS)
High vacuum analysis, analytical WD
3.0 nm at 15 kV and 5 nA (TLD-SE)
Low vacuum imaging, optimum WD
1.5 nm at 10 kV (Helix detector)
1.8 nm at 3 kV (Helix detector)
Detectors:
In-lens SE Detector (TLD-SE)
In-lens BSE Detector (TLD-BSE)
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LVD)
IR-CCD
High sensitivity low kV Directional Backscattered Detector (DBS), Lens-mount
TV-Rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
Stage:
Type: Eucentric goniometer stage, 5-axes motorised
XY: 110x110mm DC motors
Repeatability inf 2.0 µm (at0° tilt)
Z: 25 mm
R: nx360°
Tilt: -15°/+75°
Analytical working distance: 5 mm
Accessories:
GIS Carbon
GIS Platinum
Plasma cleaner
PC Support
User manual interface.
FEI Nova NanoSEM 450是一种扫描电子显微镜（SEM），用于高分辨率成像和分析微米级和纳米级。这种最先进的设备具有超导冷却场发射电子枪、高速偏转器和超高分辨率探测器，可实现无与伦比的成像性能。该技术利用超高真空设备，允许更大的空间在柱之间填充电子，从而提高分辨率，提高图像质量。这有助于减少图像模煳并删除图像结果中的噪声。另外，低电子束能量消散很快，才能对标本造成损害。源的高亮度和小斑点大小可实现高达1nm的分辨率,这意味着可以看到样品的较小区域。Nova NanoSEM 450比以往任何时候都具有更高的分辨率,可以比以往任何时候都更详细地了解样品中的细节。SE上的用户友好界面具有最新的Windows操作系统,使数据处理变得快速高效。设备中的所有组件都已集成,因此用户可以快速调整其设置和工具。FEI Nova NanoSEM 450上的探测器机提供了一种增强的智能成像工具,用于详细分析。这允许收集多个信号，包括次级电子和反向散射电子以及其他信号。探测器资产还消除了大多数可能干扰成像过程的信号。许多其他功能,如自动采样阶段、电动镜头移动、自动校准程序、样品加热和冷却以及集成的电子束写入功能,与Nova NanoSEM 450并驾齐驱,为扫描电子显微镜提供了最高质量的数据收集。凭借其直观的软件和卓越的成像分辨率，FEI NanoSEM 450是当今最好的扫描电子显微镜之一。
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