二手 FEI Quanta 250 FEG #293686361 待售
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ID: 293686361
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX
Secondary electron image resolution:
High vacuum mode: 1.0 mm @ 30 kV, 3.0 mm @ 1 kV
Backscattered electron image resolution:
High vacuum mode: 2.5 mm @ 30 kV
Low and ambient vacuum mode: 1.4 nm @ 30 kV
Beam current range:
0.8 pa ~ 100 na (15 kV)
0.8 pa ~ 100 na (2 kV)
0.8 pa ~ 100 na (1 kV)
Acceleration voltage: 200 V~30 kV.
FEI Quanta 250 FEG是一种精密的扫描电子显微镜(SEM),设计用于材料科学、生命科学、纳米技术、半导体等各个领域的高分辨率成像和先进的分析能力。作为FEI Quanta系列的旗舰仪器,Quanta 250 FEG结合了创新技术,为广泛的研究应用提供卓越的性能和多功能性。FEI Quanta 250 FEG的关键特徵之一是其场发射枪(FEG)电子源,提供高亮度和相干性的高度稳定电子束。这使得显微镜能够实现卓越的成像分辨率到亚纳米级,让研究人员能够以无与伦比的清晰度可视化精细细节和结构。FEG源还提供了增强的光束控制和光束电流稳定性,确保了一致和可重现的成像结果。Quanta 250 FEG配备了多种探测器选项,包括二次电子(SE)探测器、反向散射电子(BSE)探测器和能量色散X射线光谱(EDS)探测器。这些探测器能够在同一台仪器上进行各种成像和分析技术,使FEI Quanta 250 FEG成为一种通用工具,用于表征具有不同特性和成分的各种样品。在成像能力方面,Quanta 250 FEG支持高真空和低真空操作模式,允许对范围广泛的样品进行成像,包括可能容易产生充电效果的非导电材料。该仪器还具有可变压力模式、环境SEM (ESEM)模式和低真空模式等先进的成像模式,能够对具有可变水合水平的样品进行成像,以及对处于自然状态的样品进行成像,而无需大量的样品制备。为了提高分析能力,FEI Quanta 250 FEG配备了EDS系统,通过检测电子束-样品相互作用过程中发出的特性X射线,可以对样品进行元素分析。这使研究人员能够识别和量化样品的元素组成,绘制样品内元素分布图,并以高空间分辨率进行元素线扫描。此外,Quanta 250 FEG还提供用于数据采集、处理和分析的高级软件功能,使研究人员能够从其图像和光谱中提取有价值的信息。显微镜兼容各种成像和分析软件包,包括FEI专有软件套件,提供直观的用户界面、自动化工具和图像处理算法,以提高生产力和数据解释。总体而言,FEI Quanta 250 FEG扫描电子显微镜是一种前沿仪器,它将高分辨率成像能力与先进的分析技术相结合,为研究人员提供了研究广泛材料和样品的微观结构、组成和性质的强大工具。Quanta 250 FEG凭借其优越的性能、多功能性和用户友好的界面,是各领域科研发现不可或缺的工具。
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