二手 FEI Quanta Inspect #9172399 待售
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ID: 9172399
Scanning Electron Microscope (SEM)
Without EDS
Tungsten filament single beam
EDWARDS 8 Vacuum pump
Vacuum system:
High vacuum mode: <6 x 10^-4 Pa
Low vacuum mode: 10 - 270 Pa
Through the lens ESEM differential pumping technology
70 l/S Turbo molecular drag pump
Rotary pump
Electron optics:
Pre-aligned
(3) Lenses
Air cooled
Electron optical column optimized for high resolution
Fixed position
Final lens aperture
Navigation:
X: 50 mm (Motorized)
Y: 50 mm (Motorized)
Z: 25 mm (Manual)
Tilt: +75° to -15°
Tilt eucentric at analytical working distance: 10 mm
Source: Tungsten hairpin filament
Voltage: 200 V to 30 kV
Beam current: > 2 µA
Resolution: 3.0 nm Gold particle separation on carbon substrate
High vacuum operating modes: 10 nm at 3 kV
Low vacuum operating modes: <12 nm at 3 kV
Focus range: 3 mm - 99 mm
Magnification: 6x to >1,000,000x
With 19" LCD monitor
Scanner:
Pixel density: 512 x 442, 1024 x 884, 2048 x 1768
Dwell time: 50 ns/pixel to 1 ms/pixel
Electronic scan: n x 360°
Detector
Monitor: LCD, 19"
Low-kV, Solid state backscattered electron detector with preamplifier
CCR IR Camera.
FEI Quanta Inspect是一种高性能扫描电子显微镜（SEM），设计用于高级研究和分析实验室实验。它非常适合检查和分析各种材料，包括半导体、复合材料、金属、陶瓷、聚合物、磁性材料和薄膜。Quanta Inspect SEM利用了最先进的电子柱，使仪器性能和分辨率更高。它包括最新的成像和数字信号处理功能。它具有先进的Liebscher Type Gun （LTG）电子源，具有用于高分辨率成像和反向散射电子成像的探针。此外,它还具有智能成像和分析平台,该平台具有直观的图形用户界面、自动化的关卡和测量距离、图像缝合功能,以及用于测量关键结构的各种工具。FEI Quanta Inspect能够提供横向分辨率为1.4 nm、动态范围为14位的高质量图像。它还具有可变压力扫描电子显微镜（VP-SEM），可确保在各种工作条件下的优越成像。VP-SEM改变了高压加速器的速度，维持了成像分析的最佳真空条件。在示例阶段,Quanta Inspect为应用程序提供了多种选项,包括电动定位系统、用于查看动态对象的倾斜阶段、自动聚焦系统、示例导航设施和可编程扫描速度范围。FEI Quanta Inspect采用多种探测器，让用户灵活应对最具挑战性的分析需求。其多路探测器可用于低能和高能光束成像。电子反向散射衍射（EBSD）探测器为研究人员提供了研究各种材料纳米级特征所需的清晰度。它还可以检测和分析薄标本和散装标本中的元素组成。Quanta Inspect是一个多功能的SEM解决方桉,提供高级功能,如自动映射、阵列测量、自动数据采集和报告。它是广泛研究和工业应用的理想工具。
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